306980
No cover
Book
In basket
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych / red. Bolesław Niemierko ; współred. Janina Sygniewicz, Wojciech Walczak ; [Wyższa Szkoła Humanistyczno-Ekonomiczna w Łodzi et al.]. - Łódź : Wydaw. WSH-E, cop. 2003. - 395 s. : mapy, rys., tab., wykr. ; 24 cm.
Author
Niemierko Bolesław (1935- ). Red. Sygniewicz Janina. Red. Walczak Wojciech (1959- ). Red.
Subject
Egzaminy szkolne Oceny szkolne
Symbol UKD
371.26/.27(061)
zob. w.bibliotece.pl
Availability:
Staszów - wypożyczalnia
There are copies available to loan: sygn. 24120 (1 egz.)
Notes:
General note
U dołu okł.: IX Krajowa Konferencja z cyklu Diagnostyka Edukacyjna, Łódź 24-26 września 2003 roku.
Bibliography, etc. note
Bibliogr. przy mater.
Language note
Tekst częśc. ang.
Reviews:
Confirm report execution
Also derive:
shelf marks
IDs
subject headings
location
summary
ISBN number
sort key
adres wersji elektronicznej
copies localization
opis fizyczny
Report sorting:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
The item has been added to the basket. If you don't know what the basket is for, click here for details.
Do not show it again